高溫高濕高壓老化箱（HAST）是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件（如IC芯片、PCB、連接器）和材料在惡劣環境下的潛在缺陷，如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等，從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-180L | 瀏覽量：246 |
| 更新時間：2026-01-06 | 是否能訂做：是 |
核心技術參數
溫度范圍：+105℃ ~ +155℃（可選）
常用測試溫度：110℃, 130℃, 145℃
濕度范圍：50% ~ 95% RH（非飽和，可調）
*部分型號支持65%-100%RH，可設定飽和模式*
壓力范圍：0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表壓）
*約合0.2至6kg/cm2，滿足不同標準要求*
控制精度：溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH
確保測試條件的嚴苛穩定性和出色復現性
控制模式：支持干濕球控制、非飽和蒸汽、飽和蒸汽三種工作模式，適應多樣化的測試方案需求。
遵循的核心標準
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準，確保您的測試數據在地球范圍內獲得廣泛認可：
國際電工委員會 (IEC)：
IEC 60068-2-66 (試驗Cx: 穩態濕熱)
IEC 60749 (半導體器件機械和氣候試驗方法)
固態技術協會 (JEDEC)：
JESD22-A110 (高加速溫度和濕度應力測試 - HAST)
JESD22-A118 (無偏壓高加速溫度和濕度應力測試 - UHAST)
JESD22-A102 (高壓蒸煮試驗 - PCT)
國家標準 (GB)：
GB/T 2423.40 (環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx: 穩態濕熱)
汽車電子領域 (AEC)：
AEC-Q100 (基于集成電路應力測試的失效機理)
AEC-Q101 (分立半導體器件應力測試資質)
高溫高濕高壓老化箱（HAST）
圖片展示：
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