供應(yīng)HAST非飽和高壓加速老化試驗箱是半導(dǎo)體、汽車電子、航空航天及消費電子等領(lǐng)域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環(huán)境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產(chǎn)品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-800 | 瀏覽量:275 |
| 更新時間:2026-01-05 | 是否能訂做:是 |
設(shè)備的堅固性、密封性和耐腐蝕性是長期穩(wěn)定運行的基礎(chǔ)。
內(nèi)箱結(jié)構(gòu):采用圓筒形壓力容器設(shè)計,符合國家安全容器標準。此結(jié)構(gòu)能均勻承受高壓,并能有效防止頂板冷凝水直接滴落到樣品上,保證試驗的公正性。內(nèi)膽材質(zhì)通常選用SUS304或SUS316L不銹鋼板,后者耐腐蝕性更優(yōu)。所有焊縫均采用高強度氬弧焊并做精密拋光處理,、易清潔、耐長期高溫高濕腐蝕。
外箱材質(zhì):采用優(yōu)質(zhì)防腐電解鋼板,表面經(jīng)磷酸皮膜鹽霧處理后進行靜電粉末噴涂,外觀美觀且抗刮擦、耐腐蝕。
保溫層:采用超細玻璃棉或高密度聚氨酯發(fā)泡材料,確保優(yōu)異的隔熱性能,節(jié)能降耗,表面溫度符合安全標準。
密封系統(tǒng):采用一體成型硅膠門墊圈,具有優(yōu)異的氣密性和彈性。獨特的設(shè)計使得箱內(nèi)壓力越大,密封墊與門體的結(jié)合越緊密,壽命遠超傳統(tǒng)擠壓式密封。
參數(shù)類別 | 規(guī)格描述 | 備注與說明 |
溫度范圍 | +105℃ ~ +155℃ | 常用測試溫度為 110℃, 130℃, 145℃ |
濕度范圍 | 50% ~ 95% RH(非飽和,可調(diào)) | 部分型號支持 65%-100% RH,可設(shè)定飽和測試模式 |
壓力范圍 | 0.02 MPa ~ 0.6 MPa(表壓) | 約合 0.2 至 6 kg/cm2,滿足不同嚴苛等級的測試要求 |
控制精度 | 溫度: ±0.5℃;濕度: ±2.5% ~ ±3% RH | 確保測試條件的嚴苛穩(wěn)定性,保障數(shù)據(jù)準確性 |
控制模式 | 干濕球控制 / 非飽和蒸汽 / 飽和蒸汽 | 可根據(jù)測試標準(如JESD22-A110與A118)靈活切換 |
內(nèi)箱材質(zhì) | 高級不銹鋼(SUS304或以上) | 耐腐蝕性,保證長期測試的潔凈度與設(shè)備壽命 |
本設(shè)備的設(shè)計與制造嚴格遵循國內(nèi)外主流可靠性測試標準,確保測試結(jié)果的真實性和可比性。
GB/T 2423.40-1997 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱》
IEC 60068-2-66:1994 環(huán)境試驗. 第2-66部分:試驗方法. 試驗Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱(未飽和高壓蒸汽)
JESD22-A110 HAST(高加速溫濕度應(yīng)力試驗)
JESD22-A118 UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽應(yīng)力實驗)
AEC-Q101 車用半導(dǎo)體器件應(yīng)力測試標準
同時兼容 JESD22-A100, A101, A102, A108 等一系列JEDEC標準。
HAST試驗機是提升電子產(chǎn)品可靠性的通用工具,廣泛應(yīng)用于:
半導(dǎo)體與微電子:車規(guī)級芯片、IC封裝、MOSFET、存儲器、傳感器等。
電子元器件:PCB/PCBA、LCD模組、連接器、電容、電阻、磁性材料、光電組件(LED、光伏)。
新材料研發(fā):高分子材料、復(fù)合絕緣材料、封裝膠(如EVA)、特種涂料等耐濕熱老化性能評估。
制造:航空航天電子設(shè)備、通信設(shè)備等可靠性要求很高的領(lǐng)域
供應(yīng)HAST非飽和高壓加速老化試驗箱
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